Infineon IPN N-Channel MOSFET, 3.6 A, 650 V Enhancement, 3-Pin PG-SOT223 IPN60R1K5PFD7SATMA1
- N° de stock RS:
- 273-3015
- Référence fabricant:
- IPN60R1K5PFD7SATMA1
- Fabricant:
- Infineon
Sous-total (1 bobine de 3000 unités)*
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Unité | Prix par unité | la bobine* |
|---|---|---|
| 3000 + | 0,243 € | 729,00 € |
*Prix donné à titre indicatif
- N° de stock RS:
- 273-3015
- Référence fabricant:
- IPN60R1K5PFD7SATMA1
- Fabricant:
- Infineon
Spécifications
Documentation technique
Législations et de normes
Détails du produit
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Sélectionner tout | Attribut | Valeur |
|---|---|---|
| Marque | Infineon | |
| Channel Type | N | |
| Product Type | MOSFET | |
| Maximum Continuous Drain Current Id | 3.6A | |
| Maximum Drain Source Voltage Vds | 650V | |
| Package Type | PG-SOT223 | |
| Series | IPN | |
| Mount Type | Surface | |
| Pin Count | 3 | |
| Maximum Drain Source Resistance Rds | 1.5Ω | |
| Channel Mode | Enhancement | |
| Typical Gate Charge Qg @ Vgs | 4.6nC | |
| Forward Voltage Vf | 1V | |
| Maximum Gate Source Voltage Vgs | 20V | |
| Maximum Power Dissipation Pd | 6W | |
| Minimum Operating Temperature | -40°C | |
| Maximum Operating Temperature | 150°C | |
| Standards/Approvals | JEDEC Standard | |
| Automotive Standard | No | |
| Sélectionner tout | ||
|---|---|---|
Marque Infineon | ||
Channel Type N | ||
Product Type MOSFET | ||
Maximum Continuous Drain Current Id 3.6A | ||
Maximum Drain Source Voltage Vds 650V | ||
Package Type PG-SOT223 | ||
Series IPN | ||
Mount Type Surface | ||
Pin Count 3 | ||
Maximum Drain Source Resistance Rds 1.5Ω | ||
Channel Mode Enhancement | ||
Typical Gate Charge Qg @ Vgs 4.6nC | ||
Forward Voltage Vf 1V | ||
Maximum Gate Source Voltage Vgs 20V | ||
Maximum Power Dissipation Pd 6W | ||
Minimum Operating Temperature -40°C | ||
Maximum Operating Temperature 150°C | ||
Standards/Approvals JEDEC Standard | ||
Automotive Standard No | ||
The Infineon 600V cool MOS PFD7 super junction MOSFET complements the cool MOS 7 offering for consumer applications.
BOM cost reduction and easy manufacturing
Robustness and reliability
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