Microchip mSiC N channel-Channel MOSFET, 119 A, 1200 V, 4-Pin TO-247-4 MSC017SMA120B4N
- N° de stock RS:
- 813-816
- Référence fabricant:
- MSC017SMA120B4N
- Fabricant:
- Microchip
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- N° de stock RS:
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Spécifications
Documentation technique
Législations et de normes
Détails du produit
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Sélectionner tout | Attribut | Valeur |
|---|---|---|
| Marque | Microchip | |
| Channel Type | N channel | |
| Product Type | MOSFET | |
| Maximum Continuous Drain Current Id | 119A | |
| Maximum Drain Source Voltage Vds | 1200V | |
| Series | mSiC | |
| Package Type | TO-247-4 | |
| Mount Type | Screw | |
| Pin Count | 4 | |
| Maximum Drain Source Resistance Rds | 17mΩ | |
| Forward Voltage Vf | 3.5V | |
| Typical Gate Charge Qg @ Vgs | 194nC | |
| Minimum Operating Temperature | -55°C | |
| Maximum Operating Temperature | 175°C | |
| Width | 16.13mm | |
| Length | 41.42mm | |
| Standards/Approvals | RoHS Compliant | |
| Height | 5.21mm | |
| Automotive Standard | AEC-Q101 | |
| Sélectionner tout | ||
|---|---|---|
Marque Microchip | ||
Channel Type N channel | ||
Product Type MOSFET | ||
Maximum Continuous Drain Current Id 119A | ||
Maximum Drain Source Voltage Vds 1200V | ||
Series mSiC | ||
Package Type TO-247-4 | ||
Mount Type Screw | ||
Pin Count 4 | ||
Maximum Drain Source Resistance Rds 17mΩ | ||
Forward Voltage Vf 3.5V | ||
Typical Gate Charge Qg @ Vgs 194nC | ||
Minimum Operating Temperature -55°C | ||
Maximum Operating Temperature 175°C | ||
Width 16.13mm | ||
Length 41.42mm | ||
Standards/Approvals RoHS Compliant | ||
Height 5.21mm | ||
Automotive Standard AEC-Q101 | ||
- Pays d'origine :
- CN
The Microchip N Channel MOSFET delivers exceptional performance for high-voltage applications, incorporating Silicon Carbide technology for efficient power management and thermal performance in industrial environments.
AEC-Q101 qualified option provides reliability in automotive applications
Low capacitances and gate charge enable fast switching speeds
Stable operation at temperatures up to 175 °C ensures durability
Superior avalanche ruggedness improves system reliability