Infineon IGP40N65F5XKSA1 IGBT, 40 A 650 V TO-220, Through Hole
- N° de stock RS:
- 258-0989
- Référence fabricant:
- IGP40N65F5XKSA1
- Fabricant:
- Infineon
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Unité | Prix par unité | le paquet* |
|---|---|---|
| 2 - 18 | 2,795 € | 5,59 € |
| 20 - 48 | 2,375 € | 4,75 € |
| 50 - 98 | 2,215 € | 4,43 € |
| 100 - 198 | 2,065 € | 4,13 € |
| 200 + | 1,90 € | 3,80 € |
*Prix donné à titre indicatif
- N° de stock RS:
- 258-0989
- Référence fabricant:
- IGP40N65F5XKSA1
- Fabricant:
- Infineon
Spécifications
Documentation technique
Législations et de normes
Détails du produit
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Sélectionner tout | Attribut | Valeur |
|---|---|---|
| Marque | Infineon | |
| Maximum Continuous Collector Current Ic | 40A | |
| Product Type | IGBT | |
| Maximum Collector Emitter Voltage Vceo | 650V | |
| Maximum Power Dissipation Pd | 250W | |
| Package Type | TO-220 | |
| Mount Type | Through Hole | |
| Minimum Operating Temperature | -40°C | |
| Maximum Collector Emitter Saturation Voltage VceSAT | 1.6V | |
| Maximum Gate Emitter Voltage VGEO | ±20 ±30 V | |
| Maximum Operating Temperature | 175°C | |
| Length | 29.95mm | |
| Height | 4.57mm | |
| Standards/Approvals | JEDEC | |
| Series | High Speed Fifth Generation | |
| Automotive Standard | No | |
| Sélectionner tout | ||
|---|---|---|
Marque Infineon | ||
Maximum Continuous Collector Current Ic 40A | ||
Product Type IGBT | ||
Maximum Collector Emitter Voltage Vceo 650V | ||
Maximum Power Dissipation Pd 250W | ||
Package Type TO-220 | ||
Mount Type Through Hole | ||
Minimum Operating Temperature -40°C | ||
Maximum Collector Emitter Saturation Voltage VceSAT 1.6V | ||
Maximum Gate Emitter Voltage VGEO ±20 ±30 V | ||
Maximum Operating Temperature 175°C | ||
Length 29.95mm | ||
Height 4.57mm | ||
Standards/Approvals JEDEC | ||
Series High Speed Fifth Generation | ||
Automotive Standard No | ||
The Infineon hard-switching 650 V, 40 A TRENCHSTOP 5 IGBT discrete in TO-247 package for high efficiency demands. Best-in-class efficiency, resulting in lower junction and case temperature leading to higher device reliability.
00mV reduction in V CE(sat)
Low C OES/E OSS
Mild positive temperature coefficient V CE(sat)
Temperature stability of V f